令和7年度第1回合成横断技術領域ワークショップを開催いたします

　先端分析技術である「局所分光法」──原子間力顕微鏡（AFM）と分光を融合したこの技術は、今まさに材料科学・生命科学・半導体分野に革新をもたらしつつあります。本ワークショップでは、ナノスケールでの分光技術に関する最新の研究成果と開発動向を、トップ研究者と最前線の企業技術者よりご紹介いただきます。Nano-IRやTERS（探針増強ラマン分光）に関心をお持ちの方、あるいは今後の研究・装置開発にヒントを得たい方など、どなたでもご参加いただけます。詳細はこちらから

開催概要

•日時：令和7年7月17日（木）13:30～18:30

•会場：電気通信大学（対面・オンラインのハイブリッド開催）

•参加対象：制限なし（どなたでもご参加いただけます）

•参加申し込み：https://forms.gle/J1DzwEvcXBAiX98FA

•定員：現地参加60名、オンライン参加：制限なし

プログラム（敬称略）

13:30～13:35　開会挨拶
　　　　　　　　　　河合壯（ARIM合成横断領域代表、奈良先端科学技術大学院大学教授）

13:35～14:25　「探針増強近接場分光の最前線：単一原子・単一分子・ナノマテリアルの精密分光」
　　　　　　　　　　熊谷崇（分子科学研究所准教授）

14:25～15:10　「ナノの世界を化学する：ナノ分解能の新しい赤外分光技術Photothermal AFM-IR」
　　　　　　　　　　横川雅俊（ブルカー・ジャパン株式会社ナノ表面計測事業部）

15:10～15:20　休憩

15:20～16:10　「ナノカーボン材料のAFM-TERS評価」
　　　　　　　　　　吉村雅満（豊田工業大学教授）

16:10～16:25　「電通大におけるARIM装置の紹介」
　　　　　　　　　　平野誉（電気通信大学教授）

閉会後のプログラム（希望者のみ）

16:30～17:15　電気通信大学施設見学

17:30～18:30　情報交換会（対面）

技術の“今”を体感し、第一線の研究者と直接交流できる貴重な機会です。皆様のご参加を心よりお待ちしております。