第10回 北海道大学 微小部・表面分析研究ユーザーズミーティングを開催いたします

北海道大学工学研究院の共同利用施設では、表面・微小領域分析装置の一般開放を行っております。装置群はいずれも試料評価への強力なツールとなりますが、実際に使用する際には各装置の分析法の特徴を理解し、適切な選択を行うことが非常に重要となります。観察・分析技術の向上を目指し、ユーザーの皆様と施設職員の間で「材料分析に関するテクニカルな情報の共有化」を目的として、本ユーザーズミーティングを開催致します。皆様の研究の一助になれば幸いです。

【開催日時】
　2026年6月22日(月)　10：30～17：00

【場所】
　現地開催(北海道大学工学研究院フロンティア応用科学研究棟2階セミナー室)及びWEB

　ミーティング(Webex)　URL：https://x.gd/SFbty
　　ミーティングID：2519 681 6168
　　パスワード：dkJ3NmJHb33

【参加対象者】
　微小部・表面分析に興味のある方

【人数】
　制限なし（参加申込不要）

【プログラム】

<ユーザーズ講演>

10:35～10:50 
「界面活性剤によって形状制御されたAuクラスターナノ結晶の発光特性」
北海道大学環境科学院 博士２年 佐藤龍磨

10:50～11:05
「食肉の光散乱特性に基づく品質評価と走査型電子顕微鏡による構造観察」
北海道大学工学研究院 修士１年 中津佑斗

11:05～11:20 「Na₂SO₄ を塗布したβ-NiAl合金の高温腐食挙動」
北海道大学工学研究院 博士１年 岩崎大誠

<テクニカル講演>

11:20～12:00 「FIB-SEM System JIB-PS500i 」
日本電子株式会社 河野一郎 氏

昼休憩(1時間)

13:00～14:30 「最近のEBSD指数付け法の進化」
アメテック株式会社 吹野達也 氏

休憩(15分)

14:45～15:25 「XPS分析の基礎およびアプリケーションのご紹介」
日本電子株式会社 村谷直紀 氏

15:25～16:05 「XRFの基礎と分析事例のご紹介」
日本電子株式会社 松戸太一 氏

休憩(15分)

16:20～17:00 「EDSの基礎と定量分析のコツパート２ 」
日本電子株式会社 溜池あかね 氏

【主催】
北海道大学工学研究院共同利用施設
複合量子ビーム超高圧顕微解析研究室、光電子分光分析研究室、ナノ・マイクロマテリアル分析研究室

【共催】
文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)事業北海道大学・計測横断技術領域

【セミナー詳細】　
https://xpslab.eng.hokudai.ac.jp/wp-content/uploads/2026/05/582c17665f117427cfb6108a9d06cc41.pdf