共用装置

膜厚・粒度測定

段差計

微細形状測定機(段差計) Microfigure Measuring Instrument

機器ID
ARIM装置番号:HK-630 GFC装置番号:AP-200088
メーカー名(英語表記)
株式会社 小坂研究所(Kosaka Laboratory Ltd.)
型番
ET200A
装置の特長及び仕様

最大サンプルサイズΦ160×厚さ52mm
再現性1σ  0.3nm以内
測定範囲  Z:600μm  X:100mm
分解能Z:0.1nm  X:0.1μm
測定力10μN~500μN

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/instruments/1579