共用装置

分野から探す

状態分析・分光法

オージェ電子分光

オージェ電子分光装置 Auger electron spectroscope

機器ID
ARIM装置番号：HK-202　GFC装置番号：AP-200052
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JAMP-9500F
装置の特長及び仕様

加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10⁻¹¹～2×10⁻⁷A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging

 

光電子分光分析研究室 xpslab[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。

X線光電子分光 （XPS（硬X線を含む））

X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectroscope

機器ID
ARIM装置番号：HK-201　GFC装置番号：AP-200053
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JPS-9200
装置の特長及び仕様

標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ～3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い

 

光電子分光分析研究室 xpslab[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。

X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectrometer

機器ID
ARIM装置番号：HK-406　GFC装置番号：AP-200082
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JPS-9200
装置の特長及び仕様

標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ～3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1550

紫外・可視分光

顕微紫外近赤外分光装置 UV/Vis/NIR Microscopic Spectrophotometer

機器ID
ARIM装置番号：HK-409
メーカー名（英語表記）
日本分光(JASCO)
型番
MSV-5200
装置の特長及び仕様

反射、透過測定
光電子増倍管、冷却型PbS光導電素子
測定波長域：200nm-2700nm
カセグレン対物32倍
自動XYZステージ

大気中紫外光電子分光装置 Photoemission Yield Spectroscopy in Air

機器ID
ARIM装置番号：HK-408　GFC装置番号：AP-200070
メーカー名（英語表記）
理研計器(Riken Keiki)
型番
AC-3
装置の特長及び仕様

測定エネルギー：4.0eV-7.0eV

 

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1427