共用装置

膜厚・粒度測定

膜厚測定

光学干渉式膜厚計 Film thickness measurement instruments

機器ID
ARIM装置番号:HK-626 GFC装置番号:AP-200077
メーカー名(英語表記)
フィルメトリクス(Filmetrics)
型番
F20-UV
装置の特長及び仕様

膜厚測定範囲:1nm – 40µm
測定波長域:190-1100nm

 

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1453