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膜厚・粒度測定
膜厚測定
光学干渉式膜厚計 Film thickness measurement instruments
- 機器ID
- ARIM装置番号:HK-626 GFC装置番号:AP-200077
- メーカー名(英語表記)
- フィルメトリクス(Filmetrics)
- 型番
- F20-UV
- 装置の特長及び仕様
膜厚測定範囲:1nm – 40µm
測定波長域:190-1100nm装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1453