走査型透過電子顕微鏡

量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置

機器ID

ARIM装置番号：HK-107　GFC装置番号：AP-200085

メーカー名（英語表記）

日本電子(JEOL)

型番

JEM-ARM200F NEOARM

装置の特長及び仕様

加速電圧：200 kV, 80kV
分解能：STEM HAADF像 70pm(200kV), 100pm(80kV),
TEM情報限界 100pm(200kV), 110pm(80kV),
電子銃：冷陰極電解放出形電子銃
オプション：EDS、加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー

超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。

ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope

機器ID

ARIM登録番号：HK-101　GFC装置番号：AP-200061

メーカー名（英語表記）

日本FEI(FEI)

型番

Titan3 G2 60-300

装置の特長及び仕様

・加速電圧：60kV-300kV
・TEM分解能：0.07nm、STEM分解能：0.07nm
・X-FEG電子銃
・モノクロメーター搭載
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・Super-X EDS検出器
・Gatan GIF QuantumER分光器
・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー
・遠隔観察
・遠隔オペレーション

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1418