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走査型顕微鏡
走査型電子顕微鏡
高分解能電界放射型走査型電子顕微鏡 Field emission electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号:HK-625 GFC装置番号:AP-200017
- メーカー名(英語表記)
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JSM-6700FT
- 装置の特長及び仕様
加速電圧:5-30kV
EDS機能
試料サイズ:小片~25mm角装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1387
電界放出形走査電子顕微鏡 Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM)
- 機器ID
- ARIM装置番号:HK-302 GFC装置番号:AP-200034
- メーカー名(英語表記)
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JSM-6500F
- 装置の特長及び仕様
加速電圧:1kV~30kV
分析機能:EDS, EBSD装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1399
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 High resolution Field-emission scanning electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号:HK-404 GFC装置番号:AP-200071
- メーカー名(英語表記)
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 装置の特長及び仕様
加速電圧:0.5~30kV
分析機能:EDS
STEM機能
試料サイズ:6インチまで
遠隔画面共有装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1447