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透過電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡
電界放射型分析電子顕微鏡 Analytical FEG-TEM
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-102 GFC装置番号：AP-200039
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-2010F
- 装置の特長及び仕様
・加速電圧：200kV
・TEM分解能：0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能：EDS、EELS
・遠隔観察超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。
環境セル対応透過電子顕微鏡 Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM)
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-301 GFC装置番号：AP-200043
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-2010
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：200kV
分析機能：EDS
環境セル加熱ホルダー装備装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1405
