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透過電子顕微鏡
光電子顕微鏡
時間分解収差補正光電子顕微鏡システム Time-resolved photoelectron emission microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-405 GFC装置番号：AP-200056
- メーカー名（英語表記）
- エルミテック(Elmitec)
- 型番
- AC-PEEMIII
- 装置の特長及び仕様
空間分解能：4nm以下
時間分解能：10fs以下
LEEM機能装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1413
走査型透過電子顕微鏡
量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-107 GFC装置番号：AP-200085
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：200 kV, 80kV
分解能：STEM HAADF像 70pm(200kV), 100pm(80kV),
TEM情報限界 100pm(200kV), 110pm(80kV),
電子銃：冷陰極電解放出形電子銃
オプション：EDS、加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。
ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope
- 機器ID
- ARIM登録番号：HK-101 GFC装置番号：AP-200061
- メーカー名（英語表記）
- 日本FEI(FEI)
- 型番
- Titan3 G2 60-300
- 装置の特長及び仕様
・加速電圧：60kV-300kV
・TEM分解能：0.07nm、STEM分解能：0.07nm
・X-FEG電子銃
・モノクロメーター搭載
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・Super-X EDS検出器
・Gatan GIF QuantumER分光器
・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー
・遠隔観察
・遠隔オペレーション装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1418
収差補正走査型透過電子顕微鏡 Cs-corrected scanning transmission electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-401 GFC装置番号：AP-200062
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1419
走査型透過電子顕微鏡 Scanning transmission electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-402 GFC装置番号：AP-200041
- メーカー名（英語表記）
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能：EDS、EELS装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1403
透過型電子顕微鏡
電界放射型分析電子顕微鏡 Analytical FEG-TEM
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-102 GFC装置番号：AP-200039
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-2010F
- 装置の特長及び仕様
・加速電圧：200kV
・TEM分解能：0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能：EDS、EELS
・遠隔観察超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。
環境セル対応透過電子顕微鏡 Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM)
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-301 GFC装置番号：AP-200043
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-2010
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：200kV
分析機能：EDS
環境セル加熱ホルダー装備装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1405
超高圧電子顕微鏡
マルチビーム超高圧電子顕微鏡 Multi-Beam HVEM
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-103 GFC装置番号：AP-200036
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- ARM-1300
- 装置の特長及び仕様
・加速電圧：1250kV
・TEM分解能：0.12nmn
・LaB6熱電子銃
・300K、400Kイオン加速器
・ナノ秒パルスレーザー
・He-Cd CWレーザー
・フェムト秒レーザー
・CCD分光器
・遠隔観察超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。
