共用装置

分野から探す

触針式プロファイラー（段差計） Stylus Profiler

機器ID
ARIM登録番号：HK-XXX　GFC装置番号：AP-200092
型番
Alpha-Step D-500
装置の特長及び仕様

ワイドな垂直測定レンジ（最大1200μm）
優れた段差測定再現性（1σ＝0.5nm/1μm段差）
低針圧測定（0.03mg ～ 15mg）
観察用カラーカメラ（4Xデジタルズーム付）
キーストーン画像補正機能

nanolab@ist.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。

ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM) FE-SEM

機器ID
ARIM登録番号：HK-XXX　GFC装置番号：AP-200091
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JSM7200F
装置の特長及び仕様

二次電子分解能:1.6nm 保証(加速電圧1kV) 1.0nm 保証(加速電圧20kV)
倍率:10-1,00,000 倍
加速電圧:0.01-30kV
試料ステージ:フルユーセントリック・ゴニオメーターステージ
試料移動範囲:X: 70mm Y: 50mm Z:2~41mm

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/instruments/1612

紫外可視近赤外分光光度計（積分球付き） UV-visible near-infrared spectrophotometer (with integrating sphere)

機器ID
ARIM登録番号：HK-411　GFC装置番号：AP-200093
メーカー名（英語表記）
島津製作所(SHIMADZU)
型番
UV-3600i Plus / MPC-603A
装置の特長及び仕様

●測定波長範囲　 ：（直接受光）200 ～ 3300 nm
（積分球）　220 ～ 2600 nm
●最高分解　　　 ：　0.1nm
●測光方式　　　 ：　ダブルビーム
●検出器　　　　 ：　PMT、InGaAs、Pbs
●マルチパーパス大型試料室　MPC-603A 付

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システム(https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/instruments/1617)より承っております。

分光蛍光光度計 Fluorescence Spectrophotometer

機器ID
ARIM登録番号：HK-410　GFC装置番号：AP-200094
メーカー名（英語表記）
日立ハイテク(HITACHI)
型番
F-7100
装置の特長及び仕様

●測光方式：単色光モニター比演算方式
●光源 ：150 W　Xeランプ　オゾン自己解消ランプハウス
●分光器：無収差凹面回折格子：900 L/mm　F2.2
●同期スペクトル/繰り返し測定/CAT
●ブレーズ波長：励起側300 nm、蛍光側400 nm
●測定波長範囲（励起、蛍光側共） 200～750 nmおよび0次光
●バンドパス 励起側：1、2.5、5、10、20 nm
蛍光側：1、2.5、5、10、20 nm
●分解 1.0 nm（at 546.1 nm）
●積分球付

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システム(https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/instruments/1618)より承っております。

顕微レーザーラマン分光測定装置 Laser Raman Microscope system

機器ID
ARIM登録番号：HK-631　GFC装置番号：AP-200090
メーカー名（英語表記）
堀場製作所(HORIBA)
型番
HR-Evolution type pa nano
装置の特長及び仕様

レーザ（ラマン分析用光源）：励起波長 633nm
測定波長範囲：100-4000cm-1
分光器：入射スリット：0~1000μmまで、1μmステップで電動制御可能
検出器： CCD検出器 (Open Electrodeタイプ)
ピクセル数： 1024×256 pixels
対応波長： 200～1050nm
顕微鏡部：×10,×20,×100

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/instruments/1592