共用装置
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電界放射型分析電子顕微鏡 Analytical FEG-TEM
- 機器ID
- ARIM装置番号:HK-102 GFC装置番号:AP-200039
- メーカー名(英語表記)
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-2010F
- 装置の特長及び仕様
・加速電圧:200kV
・TEM分解能:0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能:EDS、EELS
・遠隔観察超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。

・加速電圧:200kV
・TEM分解能:0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能:EDS、EELS
・遠隔観察
超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。