共用装置

X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectrometer

機器ID
ARIM装置番号:HK-406 GFC装置番号:AP-200082
メーカー名(英語表記)
日本電子(JEOL)
型番
JPS-9200
装置の特長及び仕様

標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ~3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1550

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 High resolution Field-emission scanning electron microscope

機器ID
ARIM装置番号:HK-404 GFC装置番号:AP-200071
メーカー名(英語表記)
日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
型番
Regulus8230
装置の特長及び仕様

加速電圧:0.5~30kV
分析機能:EDS
STEM機能
試料サイズ:6インチまで
遠隔画面共有

 

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https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1447

大気中紫外光電子分光装置 Photoemission Yield Spectroscopy in Air

機器ID
ARIM装置番号:HK-408 GFC装置番号:AP-200070
メーカー名(英語表記)
理研計器(Riken Keiki)
型番
AC-3
装置の特長及び仕様

測定エネルギー:4.0eV-7.0eV

 

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集束イオンビーム加工装置 Focused Ion Beam system

機器ID
ARIM装置番号:HK-403 GFC装置番号:AP-200042
メーカー名(英語表記)
日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
型番
FB-2100
装置の特長及び仕様

イオン加速電圧:5 ~ 30 kV
サイドエントリーステージ
バルクステージ
マイクロサンプリング機能

 

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走査型透過電子顕微鏡 Scanning transmission electron microscope

機器ID
ARIM装置番号:HK-402 GFC装置番号:AP-200041
メーカー名(英語表記)
日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
型番
HD-2000
装置の特長及び仕様

加速電圧:200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能:EDS、EELS

 

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