共用装置

分野から探す

時間分解収差補正光電子顕微鏡システム Time-resolved photoelectron emission microscope

機器ID
ARIM装置番号：HK-405　GFC装置番号：AP-200056
メーカー名（英語表記）
エルミテック(Elmitec)
型番
AC-PEEMIII
装置の特長及び仕様

空間分解能：4nm以下
時間分解能：10fs以下
LEEM機能

 

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1413

X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectrometer

機器ID
ARIM装置番号：HK-406　GFC装置番号：AP-200082
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JPS-9200
装置の特長及び仕様

標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ～3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1550

精密イオン研磨装置 Precision ion polishing system

機器ID
ARIM装置番号：HK-407　GFC装置番号：AP-200079
メーカー名（英語表記）
ガタン(Gatan)
型番
PIPSII
装置の特長及び仕様

イオン加速電圧：1 ～ 6 kV
イオン入射角：最大±10°
液体窒素冷却装置
TVカメラ

 

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1519

大気中紫外光電子分光装置 Photoemission Yield Spectroscopy in Air

機器ID
ARIM装置番号：HK-408　GFC装置番号：AP-200070
メーカー名（英語表記）
理研計器(Riken Keiki)
型番
AC-3
装置の特長及び仕様

測定エネルギー：4.0eV-7.0eV

 

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1427

電界放射型分析電子顕微鏡 Analytical FEG-TEM

機器ID
ARIM装置番号：HK-102　GFC装置番号：AP-200039
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JEM-2010F
装置の特長及び仕様

・加速電圧：200kV
・TEM分解能：0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能：EDS、EELS
・遠隔観察

 

超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。