共用装置

ヘリコンスパッタリング装置 Helicon sputtering system

機器ID
ARIM装置番号:HK-609 GFC装置番号:AP-200008
メーカー名(英語表記)
アルバック(Ulvac)
型番
MPS-4000C1/HC1
装置の特長及び仕様

カソード:3元(マグネトロン4インチ、ヘリコンDC2インチ、ヘリコンRF2インチ)
成膜材料:Au,Cr,Ti
試料サイズ:最大4インチ

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装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1379

真空蒸着装置 Vacuume evaporation system

機器ID
ARIM装置番号:HK-608 GFC装置番号:AP-200005
メーカー名(英語表記)
サンバック(SANVAC)
型番
ED-1500R
装置の特長及び仕様

蒸着源:抵抗加熱3元、EB3元
基板加熱可
水晶振動式膜厚計

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電界放出形走査電子顕微鏡 Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM)

機器ID
ARIM装置番号:HK-302 GFC装置番号:AP-200034
メーカー名(英語表記)
日本電子(JEOL)
型番
JSM-6500F
装置の特長及び仕様

加速電圧:1kV~30kV
分析機能:EDS, EBSD

 

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X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectrometer

機器ID
ARIM装置番号:HK-406 GFC装置番号:AP-200082
メーカー名(英語表記)
日本電子(JEOL)
型番
JPS-9200
装置の特長及び仕様

標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ~3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜

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時間分解収差補正光電子顕微鏡システム Time-resolved photoelectron emission microscope

機器ID
ARIM装置番号:HK-405 GFC装置番号:AP-200056
メーカー名(英語表記)
エルミテック(Elmitec)
型番
AC-PEEMIII
装置の特長及び仕様

空間分解能:4nm以下
時間分解能:10fs以下
LEEM機能

 

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