共用装置

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環境セル対応透過電子顕微鏡 Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM)

機器ID
ARIM装置番号：HK-301　GFC装置番号：AP-200043
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JEM-2010
装置の特長及び仕様

加速電圧：200kV
分析機能：EDS
環境セル加熱ホルダー装備

 

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1405

オージェ電子分光装置 Auger electron spectroscope

機器ID
ARIM装置番号：HK-202　GFC装置番号：AP-200052
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JAMP-9500F
装置の特長及び仕様

加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10⁻¹¹～2×10⁻⁷A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging

 

光電子分光分析研究室 xpslab[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。

X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectroscope

機器ID
ARIM装置番号：HK-201　GFC装置番号：AP-200053
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JPS-9200
装置の特長及び仕様

標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ～3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い

 

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集束イオンビーム加工装置 FIB

機器ID
HK-105
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
JEM-9320FIB
装置の特長及び仕様

・イオン加速電圧：5 ～ 30 kV
・倍率：150（50）～300,000
・真空系：ターボ分子ポンプ（TMP）、ロータリーポンプ（RP）
・チップオンホルダー
・バルクホルダー
・ピックアップ装置
・遠隔観察装置

 

超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。

マルチビーム超高圧電子顕微鏡 Multi-Beam HVEM

機器ID
ARIM装置番号：HK-103　GFC装置番号：AP-200036
メーカー名（英語表記）
日本電子(JEOL)
型番
ARM-1300
装置の特長及び仕様

・加速電圧：1250kV
・TEM分解能：0.12nmn
・LaB6熱電子銃
・300K、400Kイオン加速器
・ナノ秒パルスレーザー
・He-Cd　CWレーザー
・フェムト秒レーザー
・CCD分光器
・遠隔観察

 

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