共用装置
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集束イオンビーム加工・観察装置 Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscope system(FIB-SEM)
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-304 GFC装置番号：AP-200046
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JIB-4600F/HKD
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：1～30kV
分析機能：EDS、EBSD、3D観察
像分解能：5nm（30kV）装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1407
収差補正走査型透過電子顕微鏡 Cs-corrected scanning transmission electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-401 GFC装置番号：AP-200062
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1419
走査型透過電子顕微鏡 Scanning transmission electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-402 GFC装置番号：AP-200041
- メーカー名（英語表記）
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能：EDS、EELS装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1403
集束イオンビーム加工装置 Focused Ion Beam system
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-403 GFC装置番号：AP-200042
- メーカー名（英語表記）
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- FB-2100
- 装置の特長及び仕様
イオン加速電圧：5 ～ 30 kV
サイドエントリーステージ
バルクステージ
マイクロサンプリング機能装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1404
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 High resolution Field-emission scanning electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-404 GFC装置番号：AP-200071
- メーカー名（英語表記）
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：0.5～30kV
分析機能：EDS
STEM機能
試料サイズ：6インチまで
遠隔画面共有装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1447
