共用装置
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走査型透過電子顕微鏡 Scanning transmission electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-402 GFC装置番号：AP-200041
- メーカー名（英語表記）
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能：EDS、EELS装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1403
集束イオンビーム加工装置 Focused Ion Beam system
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-403 GFC装置番号：AP-200042
- メーカー名（英語表記）
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- FB-2100
- 装置の特長及び仕様
イオン加速電圧：5 ～ 30 kV
サイドエントリーステージ
バルクステージ
マイクロサンプリング機能装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1404
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 High resolution Field-emission scanning electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-404 GFC装置番号：AP-200071
- メーカー名（英語表記）
- 日立ハイテク(Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：0.5～30kV
分析機能：EDS
STEM機能
試料サイズ：6インチまで
遠隔画面共有装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1447
時間分解収差補正光電子顕微鏡システム Time-resolved photoelectron emission microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-405 GFC装置番号：AP-200056
- メーカー名（英語表記）
- エルミテック(Elmitec)
- 型番
- AC-PEEMIII
- 装置の特長及び仕様
空間分解能：4nm以下
時間分解能：10fs以下
LEEM機能装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1413
X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectrometer
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-406 GFC装置番号：AP-200082
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 装置の特長及び仕様
標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ～3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1550
