共用装置

ヘリコンスパッタリング装置 Helicon sputtering system

機器ID
ARIM装置番号:HK-609 GFC装置番号:AP-200008
メーカー名(英語表記)
アルバック(Ulvac)
型番
MPS-4000C1/HC1
装置の特長及び仕様

カソード:3元(マグネトロン4インチ、ヘリコンDC2インチ、ヘリコンRF2インチ)
成膜材料:Au,Cr,Ti
試料サイズ:最大4インチ

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https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1379

コンパクトスパッタ装置 Compact Sputter

機器ID
ARIM装置番号:HK-610 GFC装置番号:AP-200066
メーカー名(英語表記)
アルバック(Ulvac)
型番
ACS-4000-C3-HS
装置の特長及び仕様

カソード4元(DC3元、RF1元)
成膜材料:SiO2、Au,Cr、Mo等
基板サイズ:10mm~4インチ(リフトオフ仕様では25mm角まで)
基板加熱機構有り(~550℃)

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多元スパッタ装置 Multi-target Sputtering sysutem

機器ID
ARIM装置番号:HK-611 GFC装置番号:AP-200072
メーカー名(英語表記)
アルバック(Ulvac)
型番
QAM-4-STS
装置の特長及び仕様

カソード7元(ヘリコン2台含む)
試料:小片~最大Φ100㎜
垂直成膜可能(25mm角まで)
コスパッタ(DC/RF)、逆スパッタ
ターゲット:Au、Cr、Pt、Ag他
700度加熱可能
ラジカルイオンガン搭載(N,O)

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電界放出形電子プローブマイクロアナライザー Field emission electron probe micro analyzer (FE-EPMA)

機器ID
ARIM装置番号:HK-303 GFC装置番号:AP-200045
メーカー名(英語表記)
日本電子(JEOL)
型番
JXA-8530F
装置の特長及び仕様

加速電圧:1~30kV
分析機能:WDS

 

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電界放出形走査電子顕微鏡 Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM)

機器ID
ARIM装置番号:HK-302 GFC装置番号:AP-200034
メーカー名(英語表記)
日本電子(JEOL)
型番
JSM-6500F
装置の特長及び仕様

加速電圧:1kV~30kV
分析機能:EDS, EBSD

 

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