共用装置
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時間分解収差補正光電子顕微鏡システム Time-resolved photoelectron emission microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-405 GFC装置番号：AP-200056
- メーカー名（英語表記）
- エルミテック(Elmitec)
- 型番
- AC-PEEMIII
- 装置の特長及び仕様
空間分解能：4nm以下
時間分解能：10fs以下
LEEM機能装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1413
X線光電子分光装置 X-ray photoelectron spectrometer
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-406 GFC装置番号：AP-200082
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 装置の特長及び仕様
標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30µmφ～3㎜φ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20㎜×50㎜装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1550
精密イオン研磨装置 Precision ion polishing system
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-407 GFC装置番号：AP-200079
- メーカー名（英語表記）
- ガタン(Gatan)
- 型番
- PIPSII
- 装置の特長及び仕様
イオン加速電圧：1 ～ 6 kV
イオン入射角：最大±10°
液体窒素冷却装置
TVカメラ装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1519
大気中紫外光電子分光装置 Photoemission Yield Spectroscopy in Air
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-408 GFC装置番号：AP-200070
- メーカー名（英語表記）
- 理研計器(Riken Keiki)
- 型番
- AC-3
- 装置の特長及び仕様
測定エネルギー：4.0eV-7.0eV
装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1427
収差補正走査型透過電子顕微鏡 Cs-corrected scanning transmission electron microscope
- 機器ID
- ARIM装置番号：HK-401 GFC装置番号：AP-200062
- メーカー名（英語表記）
- 日本電子(JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 装置の特長及び仕様
加速電圧：80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/apparatus_list/1419
