共用装置

マニュアルスパッタ Manual Sputter

機器ID
ARIM登録番号:HK-XXX GFC装置番号:AP-200089
メーカー名(英語表記)
自作
装置の特長及び仕様

成膜したい材料を装着させることが可能

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/instruments/1580

微細形状測定機(段差計) Microfigure Measuring Instrument

機器ID
ARIM装置番号:HK-630 GFC装置番号:AP-200088
メーカー名(英語表記)
株式会社 小坂研究所(Kosaka Laboratory Ltd.)
型番
ET200A
装置の特長及び仕様

最大サンプルサイズΦ160×厚さ52mm
再現性1σ  0.3nm以内
測定範囲  Z:600μm  X:100mm
分解能Z:0.1nm  X:0.1μm
測定力10μN~500μN

データご提供用のエクセルファイルはこちらHK-630_Step_gauge_PDL

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/instruments/1579

卓上型ランプ加熱装置 Infrared Gold Image Furnace / RTA System Mini Lamp Annealer

機器ID
ARIM装置番号:HK-628 GFC装置番号 :AP-200084
メーカー名(英語表記)
アドバンス理工
型番
MILA-5000
装置の特長及び仕様

温度範囲:RT ~ 1200℃
試料寸法:角 20mm × 厚 2mm
加熱雰囲気:大気中、真空中、不活性ガス中
到達真空度:6.5Pa(RP*1使用、室温無負荷)

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/rsv_top/1553

ガラスインプリント装置 High Precision Optical Glass Molding Press Machine

機器ID
ARIM装置番号:HK-629 GFC装置番号 :AP-200086
メーカー名(英語表記)
芝浦機械株式会社(SHIBAURA MACHINE CO., LTD.)
型番
GMP-415V
装置の特長及び仕様

ナノ~マイクロメートルサイズの鋳型をガ
ラス基板上に転写することで、ガラスの微細構造体を作製することが可能

装置のお問い合わせ・ご予約は GFC総合システムより承っております。
https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/openfacility/item/show/rsv_top/1555

量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置 Microscopic measuring equipment for physical properties on quantum/electronic controlled nano-materials

機器ID
ARIM装置番号:HK-107 GFC装置番号:AP-200085
メーカー名(英語表記)
日本電子(JEOL)
型番
JEM-ARM200F NEOARM
装置の特長及び仕様

・加速電圧:80kV-200kV
・TEM分解能:0.1 nm、STEM分解能:0.07nm
・冷陰極電界放出型電子銃
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・HAADF-ABF同時取得機能
・EDS検出器
・加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー

超高圧電子顕微鏡室 denken[at]eng.hokudai.ac.jpへお問い合わせください。